مقدمه‌ای بر روش تحلیلی پراش الکترون‌های به عقب رانده شده (EBSD)
محورهای موضوعی : فصلنامه علمی - پژوهشی مواد نوین
1 - نویسنده
2 - نویسنده
کلید واژه: پراش الکترون‌های به عقب رانده شده(EBSD), بررسی کمی ریزساختار, تصویربرداری جهتی(OIM), اختلاف جهتی,
چکیده مقاله :
در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارایه می‌شود. روش پراش الکترون‌های به عقب رانده شده(EBSD) توانایی‌های قابل‌توجهی در بررسی‌کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه‌ای‌که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهEBSD در سال 1928 در میکروسکوپ الکترون عبوری(TEM) دیده شد و تا به امروز پیشرفت‌های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده‌ها صورت گرفته است. از آن جمله می‌توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش‌های مشاهده تصویر و کمیت‌سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازEBSDد در این نوشتار ارایه می‌شوند.
In this article, an introduction to the efficient and developing method (EBSD (Electron Backscattered Diffraction) it is possible. Backscattered Electron Diffraction (EBSD) has significant capabilities in the quantitative and qualitative investigation of microstructure. has it. The development of EBSD has recently received wide attention from industries and research centers, so that the main method of investigation The microstructure has changed in many of these centers. This method is used to calculate crystal directions of microstructures (and Nano Microstructures, (phase identification and the degree of distribution of phases are used. The first evidence of EBSD in 1928 in the microscope Transmission electron microscopy (TEM) was observed and until today, great progress has been made in image improvement and data extraction. From It can be mentioned the development of hardware, the preparation of software, the invention of image observation methods and the quantification of microstructure. The principles, history, applications and several practical examples of EBSD are presented in this article.
1- OIM Data Collector/Analyzer 5.2 Software
Help, EDAX-TSL Advanced Microanalysis
Solutions, Draper Utah USA,2009.
2- S. Wright, Introduction to Orientation
Imaging Microscopy (OIM) and Electron
Backscattered Diffraction (EBSD), EDAXTSL Advanced Microanalysis Solutions,
Draper Utah USA, 2010.
3- H. Jiao, EBSD – An Introduction and Latest
Development, HKL Oxford Instruments,
Singapore 2010.
4- A.J. Schwartz, M. Kumar, B.L. Adams, and
D.P. Field, Electron Backscattered Diffraction
in Materials Science, 2nd Ed. Springer,2009.
5- B.L. Adams, S.R. Kalidindi, D.T. Fullwood,
Microstructure Sensitive Design for
Performance Optimization, BYU Academic
Publishing, Printed September 2006.
6- M. Abbasi, T.W. Nelson, C.D. Sorensen,
Variant Selection Mechanisms in Friction Stir
Welded HSLA Steels, Journal of Applied
Crystallography, Under Review, February
2013.
7- R.W. Fonda, J.F. Bingert, K.J. Colligan,
Development of Grain Structure During
Friction Stir Welding, Scripta Mater. 51 , 243-
248, 2004.
8- J.Q. Su, T.W. Nelson, T.R. McNelley, and
R.S. Mishra, Development of Nanocrystalline
Structure in Cu During Friction Stir Processing
(FSP), Materials Science and Engineering A.
528,5458–5464, 2004.
9- M. Abbasi, T.W. Nelson, C.D. Sorensen,
and L. Wei, An Approach to Prior Austenite
Reconstruction, Materials Characterization 66:
1-8, 2011.
10- M. Abbasi, L.Y. Wei, T.W. Nelson, Prior
Austenite Reconstruction in Friction Stir
Processed API X65 Steel Using OIM,
MS&T09, Oct. 2009, Pittsburgh, PA, USA.
11- Majid Abbasi, Microstructural Evolution
in Friction Stir Welded High Strength Low
Alloy Steel, PhD Dissertation, Brigham Young
University, Fall, 2011.
12- M. Abbasi, T.W. Nelson, C.D. Sorensen,
Transformation and Deformation Texture
Study in Friction Stir Processed API X80
Pipeline Steel, Met. Mat. Trans. A, Vol. 43 A:
4940-4946, 2012.