درتحقیق حاضر، نانوذرات ZrB2 با استفاده از روش سل-ژل سنتز شدند.از آلکوکسیدزیرکونیوم به عنوان منبع Zr واز اسید بوریک به عنوان منبع بور استفاده گردید.اندازه ذرات پیش سازنده در ابعاد نانومتری با استفاده از پارامتر pH در داخل سل کنترل شدندو تشکیل جوانه های اولیه فاز ZrB2 و میزان بلوری شده آنها با استفاده از پارامتر دما بررسی گردید. نتایج DLS نشان داد که اندازه ذرات پیش سازنده در داخل سل در عدد pH کمتر از5، زیر 10 نانومتر بودند. مخلوط کردن ذرات پیش سازنده در ابعاد مولکولی در داخل سل یکی از دلایل مهم در کاهش دمای سنتز ذرات ZrB2 بود. نتایج FTIR روی پیوندهای شیمیایی نشان داد که پیوندZr-B در داخل پودر ژل تشکیل شده است. نتایج DTA نشان داد که جوانه های اولیه ذرات ZrB2 در دمای حدود 1320 درجه سانتی گراد تشکیل شده است. مشاهدات XRD نشان داد که جوانه های اولیه فاز ZrB2در دمای حدود1500 درجه سانتی گراد کریستالیزه شده و رشد یافته اند.تحقیقات سطحی نشان داد که سطح ویژه ذرات سنتز شده ZrB2 معادل 115 متر مربع در گرم است و همچنین سطوح این ذرات متخلخل بوده و اندازه این تخلخل ها در محدوده مزو است. تجزیه و تحلیل SEM نشان داد که اندازه ذرات ZrB2 با مورفولوژی همگن در محدوده 50 نانومتر است. در نهایت، تجزیه و تحلیل ریزساختاری TEM نشان داد که ذرات ZrB2 به طور یکنواخت و منظم در ابعاد بسیار ریز تشکیل شده است. پرونده مقاله

در این پژوهش ‌سنتز نانو ذرات سیلیکاتی مزومتخلخل توخالی با استفاده از پیش ماده تترا اتیل اورتو سیلیکات (TEOS) در حضور قالب پلی استایرن مورد بررسی قرار گرفت، فرآیند در یک محیط شیمیایی بر پایه الکلی با کنترل pH و افزودن فعال کننده سطحی ستیل تری-متیل آمونیم برمید (CTAB) در غلظت مناسب انجام گردید. برای ارزیابی سازوکار ‌سنتز ذرات سیلیکاتی مزومتخلخل توخالی از روشهای آنالیز FTIR، DTA/TG، BET، DLS،XRD ، SEM و TEM استفاده شد. نتایج آنالیز پیوندی FTIR نشان داد که ذرات پیش سازنده TEOS در حین فرآیند سنتز با مواد فعال کننده CTAB پیوندهای سطحی برقرار کرده و همینطور وجود پیوندهای Si-O-Si (محدوده cm-1 1320-600 ) نشان دهنده تشکیل زنجیره های سیلیکاتی بر روی قالبهای پلی استایرن می باشد. مطالعات آنالیز حرارتی DTA/TG نشان داد ذرات سیلیکاتی را می‌توان در دمای 380 درجه سانتیگراد سنتز کرد. آنالیز BET نشان داد سطح ویژه‌ی این ذرات برابر با m2.g-1 1180 می‌باشند. نتایج پراش‌سنجی اشعه ایکس نشان داد که، محصول بدست آمده سیلیکای آمورف می‌باشد و فازهای ناخواسته در ‌این سیستم تشکیل نشده است‌. منحنی توزیع DLS نشان داد که ذرات سنتز شده دارای ابعادی در محدوده اندازه 1 الی 10 نانومتر بوده و توزیع اندازه ذرات در محدوده‌ی باریکی می باشد. تصاویر SEM موید کروی بودن نانوذرات با اندازه متوسط 25-30 نانومتر می باشد. در نهایت تصاویر میکروسکوپ الکترونی عبوری نشان داد که ذرات سیلیکاتی سنتز شده توخالی بوده بطوریکه قطر محفظه توخالی و قطر کل آن به ترتیب در حدود 30 و 80 نانومتر می باشد. پرونده مقاله