در این مقاله نشان می دهیم که فرآیندهای مارکوف نقشی اساسی در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافی آن سطح دارند. توپوگرافی سطح حاصل شده از یک پروفایلومتر مانند میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتی سایز سوزن پروب با تغییرات ارتفاع سطح قابل مقایسه باشد، تصویر سطح نسبت به سطح اصلی مقداری متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن یک تلاقی در تابع ساختار سطح می شود. برای مقیاس های کوچکتر از طول مارکوف – مقیاس طول مینیمم بر روی فرآیندی که مارکوف باشد- تابع تصادفی که سطح زبر را توصیف می کند غیر مارکوفی است، درحالیکه برای مقیاس طول بزرگتر از طول مارکوف، سطح می تواند توسط یک فرآیند مارکوف توصیف شود. سطوح زبر مصنوعی تولید شده با روش (Fractional Guassian Noise) FGN، به خوبی سطح زبر V2O5 حاصل شده توسط AFM، این نتایج را تایید می کند. Manuscript profile

حسگر ولتامتری جدیدی برای اندازه‌گیری جم فیبروزیل با استفاده از اصلاح الکترود کربن شیشه‌ای با فیلمی از پلی آلیزارین قرمز S و نانولوله‌های کربنی چند دیواره تهیه شد. برای تهیه این حسگر از مزایای هر دو عامل اصلاح‌کننده نظیر سطح مقطع و هدایت بالای نانولوله‌های کربنی و توانایی انتقال الکترون سریع آلیزارین قرمز S استفاده شد. برای بررسی ویژگی‌های الکترود اصلاح شده با پلی آلیزارین قرمز S/نانولوله‌های کربنی چند دیواره از SEM، طیف‌بینی امپدانس و ولتامتری چرخه‌ای بهره برده شد. بررسی اکسایش الکتروشیمیایی جم فیبروزیل در سطح الکترود اصلاح شده با تکنیک‌های ولتامتری چرخه‌ای و پالس تفاضلی انجام شد. پارامترهای تاثیرگذار تجربی اعم از شیمیایی و دستگاهی مورد بررسی قرار گرفت و برای اندازه‌گیری جم فیبروزیل بهینه شد. تحت شرایط بهینه، پاسخ حسگر در ناحیه mol.L-1µ 0/22-00/1 خطی می‌باشد. حد تشخیص بدست آمده در این مطالعه، mol.L-1µ 240/0 میکرو مولار بوده است. انحراف استاندارد نسبی برای 5 اندازه‌گیری تکراری جم فیبروزیل با غلظت mol.L-1µ 0/2، 5/1% محاسبه شد. بررسی‌ها نشان داد که حسگر تهیه شده از پایداری، تکرارپذیری و تکثیرپذیری بالایی برخوردار است. اثر مزاحمت ترکیبات گوناگون بر اندازه‌گیری جم فیبروزیل نیز مورد بررسی قرار گرفت. حسگر به خوبی برای اندازه‌گیری جم فیبروزیل در نمونه‌های دارویی و سرم خون مورد استفاده قرار گرفت. Manuscript profile

در این مقاله اثر سه طول مشخصه طول موج پرتو تابیده شده به سطح (l)، زبری (s) و طول همبستگی سطح (x) برای سطوح با زبری نانومتری با استفاده از شدت موج پراکنده شده به کمک تئوری پراکندگی موج کیرشهف مطالعه شده است. در این مطالعه مشخص شد که مقیاس طول همبستگی نقش مهمی در نوع پراکندگی از سطوح زبر با زبری نانومتری بازی می‌کند. تاکنون در اغلب گزارش‌ها برای پراکندگی موج از سطوح زبر از پارامتر بدون بعد ks استفاده شده است که این موضوع زمانی که تنها طول مشخصه سیستم s در نظر گرفته شود، مناسب است. اما با وجود طول مشخصه دیگری همچون طول همبستگی x شرایط متفاوت می‌شود. تا زمانی که l>>x باشد طول همبستگی تأثیری در رفتار موج پراکنده شده ندارد، ولی نتایج نشان می دهد که وقتی x در برابر l قابل مقایسه باشد نمودار تغییرات شدت پراکندگی بر حسب ks برای حالتی که k تغییر کند یا s نتایج متفاوتی حاصل می کند (k=2p/l عدد موج نور تابشی است). بدین منظور یک سطح زبر فراکتالی با ساختار نانومتری به عنوان نمونه انتخاب شده است و تاثیر پارامترهای مشخصه سطح بر شدت پراکندگی پخشی حاصل از آن مورد مطالعه قرار گرفته است. Manuscript profile