فیلم های نازک اکسیدروی با بکار گیری روش سل-ژل، با استفاده از زینک استات دی هیدرات،2- پروپانول و دی اتانول امین،بر روی زیرلایه های شیشه ای تهیه شده اند. خواص اپتیکی و ساختاری فیلم های تهیه شده، با استفاده از پراش سنج اشعه ایکس، روش بیناب نمائی نوری فرابنفش- مرئی و بررسی چکیده کامل
فیلم های نازک اکسیدروی با بکار گیری روش سل-ژل، با استفاده از زینک استات دی هیدرات،2- پروپانول و دی اتانول امین،بر روی زیرلایه های شیشه ای تهیه شده اند. خواص اپتیکی و ساختاری فیلم های تهیه شده، با استفاده از پراش سنج اشعه ایکس، روش بیناب نمائی نوری فرابنفش- مرئی و بررسی های میکروسکوپی الکترونی مورد مطالعه قرار گرفته است. فیلم های تهیه شده تحت این شرایط، در محدوده مرئی بالای 400 نانومتر شفاف بوده و یک طول موج قطع فرابنفش تیزی در حوالی 380 نانومتر دیده می شود. ضخامت فیلم های تهیه شده در محدوده250 تا390 نانومتر می باشد. ثابت های اپتیکی فیلم های نازک مورد مطالعه، مانند ضریب شکست فیلم ها، با افزایش طول موج کاهش می یابندفیلم های نازک اکسیدروی با بکار گیری روش سل-ژل، با استفاده از زینک استات دی هیدرات،2- پروپانول و دی اتانول امین،بر روی زیرلایه های شیشه ای تهیه شده اند. خواص اپتیکی و ساختاری فیلم های تهیه شده، با استفاده از پراش سنج اشعه ایکس، روش بیناب نمائی نوری فرابنفش- مرئی و بررسی های میکروسکوپی الکترونی مورد مطالعه قرار گرفته است. فیلم های تهیه شده تحت این شرایط، در محدوده مرئی بالای 400 نانومتر شفاف بوده و یک طول موج قطع فرابنفش تیزی در حوالی 380 نانومتر دیده می شود. ضخامت فیلم های تهیه شده در محدوده250 تا390 نانومتر می باشد. ثابت های اپتیکی فیلم های نازک مورد مطالعه، مانند ضریب شکست فیلم ها، با افزایش طول موج کاهش می یابند.
پرونده مقاله
در این مقاله، شواهدی مبنی بر تشکیل نانولوله کربنی چند جداره کوتاه و بدون زیپ از طریق یک روش میکروویو آسان و مقیاس پذیر گزارش شده است. این رویکرد شامل یک رفتار میکروویو KMno4 از نانولوله های کربنی چند جداره است. آنالیزهای میکروسکوپ الکترونی عبوری، میکروسکوپ نوری و همچنین چکیده کامل
در این مقاله، شواهدی مبنی بر تشکیل نانولوله کربنی چند جداره کوتاه و بدون زیپ از طریق یک روش میکروویو آسان و مقیاس پذیر گزارش شده است. این رویکرد شامل یک رفتار میکروویو KMno4 از نانولوله های کربنی چند جداره است. آنالیزهای میکروسکوپ الکترونی عبوری، میکروسکوپ نوری و همچنین طیف سنجی رامان، شواهدی از دستیابی به نانولوله های کربنی چند جداره زیپ نشده را نشان دادند. اکسیداسیون نانولوله های کربنی چند جداره (با استفاده از ترکیب KMnO4 و H2SO4 در مدت 20 دقیقه) منجر به برش و باز کردن زیپ دیواره های گرافیتی آن ها می شود. تولید چنین نانوساختاری، امکان ادغام آن ها در مقیاس بزرگ را در زمینه های الکترونیک و مواد کامپوزیتی فراهم می کند.در این مقاله، شواهدی مبنی بر تشکیل نانولوله کربنی چند جداره کوتاه و بدون زیپ از طریق یک روش میکروویو آسان و مقیاس پذیر گزارش شده است. این رویکرد شامل یک رفتار میکروویو KMno4 از نانولوله های کربنی چند جداره است. آنالیزهای میکروسکوپ الکترونی عبوری، میکروسکوپ نوری و همچنین طیف سنجی رامان، شواهدی از دستیابی به نانولوله های کربنی چند جداره زیپ نشده را نشان دادند. اکسیداسیون نانولوله های کربنی چند جداره (با استفاده از ترکیب KMnO4 و H2SO4 در مدت 20 دقیقه) منجر به برش و باز کردن زیپ دیواره های گرافیتی آن ها می شود. تولید چنین نانوساختاری، امکان ادغام آن ها در مقیاس بزرگ را در زمینه های الکترونیک و مواد کامپوزیتی فراهم می کند.
پرونده مقاله
در این مقاله، تکنیک های مختلف ساخت لایه های نازک و همچنین کاربردهای آن ها در مسائل محیط زیست مورد مطالعه قرار گرفته است. ضخامت لایههای نازک معمولاً در محدوده بین ۵۰ و ۵۰۰۰ آنگستروم قرار می گیرد. روش های ساخت لایه های نازک، عمدتاً به دو صورت فیزیکی و شیمیایی انجام می گ چکیده کامل
در این مقاله، تکنیک های مختلف ساخت لایه های نازک و همچنین کاربردهای آن ها در مسائل محیط زیست مورد مطالعه قرار گرفته است. ضخامت لایههای نازک معمولاً در محدوده بین ۵۰ و ۵۰۰۰ آنگستروم قرار می گیرد. روش های ساخت لایه های نازک، عمدتاً به دو صورت فیزیکی و شیمیایی انجام می گیرد. با کاهش ضخامت یک لایه نازک، رسانایی الکتریکی آن، کاهش و مقاومت الکتریکی آن، افزایش می یابد. همچنین کاهش ضخامت لایه، منجر به کاهش شدت مغناطیسی آن می گردد. از طرف دیگر، به علت افزایش میزان سطح به حجم در لایههای نازک، سرعت تغییر دما و واکنش شیمیایی نسبت به حالت توده ای افزایش می یابد. از جمله عوامل مؤثر بر کیفیت یک لایه نازک می توان به ساختار زیرلایه، سرعت لایه نشانی، دمای زیرلایه و نوع خلاء اشاره کرد.
پرونده مقاله