کاربردهای فریبنده و چشمگیر مواد مبتنی بر اکسید ساماریم در علم نیمه هادی ها، علاقه به سنتز و مطالعه خواص فیزیکی آنها را ایجاد کرد. بنابراین، پس از تهیه اکسید ساماریوم خالص و پودرهای گرافن/اکسید ساماریوم از طریق تکنیک هیدروترمال با استفاده از پراش اشعه ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی (FESEM)، طیف‌سنجی فروسرخ تبدیل فوریه (FTIR)، طیف‌سنجی رامان، و طیف‌سنجی UV-Visible، خواص ساختاری، نوری و مورفولوژیکی نمونه ها مورد ارزیابی قرار گرفته است. با استفاده از XRD، ثابت های شبکه و برخی پارامترهای ساختاری مرتبط تعیین شد. تغییر گاف نواری اپتیکی نیز با کمک جذب محاسبه شده است. داده‌های XRD نشان داد که فاز مکعبی اکسید ساماریوم در هر دو نمونه غالب است، حتی اگر یک پیک پراش شدید گرافن در نمونه گرافن/اکسید ساماریوم مشاهده شود. تجزیه و تحلیل SEM، Raman و FTIR، اثرات افزودن گرافن را بر شبکه اصلی اکسید ساماریوم نشان داد. علاوه بر این، کاهش گاف نواری اپتیکی ناشی از گرافن نیز قابل توجه بود. تفاصيل المقالة