فیلم‌های نازک نانوساختاری اکسید روی با ضخامت حدود nm ۱۵۰ با روش اسپاترینگ پلاسمایی برای سه دمای مختلف زیرلایه استیلی و درصدهای مختلف ترکیب اکسیژن و گاز کاری آرگون تهیه گردیده و نمونه‌های مختلف تحت تابش پرتوهای گاما Co60 قرار داده شدند. تغییرات در طیف پراش پرتو اشعه X (XRD)، مقاومت ویژه و به تبع آن هدایت الکتریکی و مورفولوژی سطح برای دوزهای مختلف پرتو گاما از Gy ۵۰ تا Gy ۲۰۰۰ بررسی و مورد تحقیق قرار گرفته‌اند. با اینکه وابستگی خصوصیات الکتریکی و مورفولوژی فیلم‌های نازک با میزان دوز تابشی گاما، درصد ترکیب‌های گاز کاری و دماهای زیرلایه بسیار پیچیده است با این حال برای بعضی از دوزهای گاما تغییرات در فاز ساختاری، مقاومت ویژه و اندازه نانودانه‌های نشانده شده روی زیرلایه استیل به وضوح قابل ملاحظه هستند. تفاصيل المقالة