فهرست مقالات enhanced Raman spectroscopy

• دسترسی آزاد مقاله
  • صفحه چکیده
  • متن کامل
  
  1 - Detection of overtone and combined peaks using Mn/Cu helical star-shaped (pine-tree-like) sculptured thin films in surface-enhanced Raman spectroscopy
  Reza Babaei Shokoofe Goli-Haghighi Hadi Savaloni
  10.1007/s40094-019-00348-2
  AbstractMn helical star-shaped (pine-tree-like) nano-sculptured thin films with three-, four-and fivefold symmetry on copper substrates were produced using oblique angle deposition method in conjunction with rotation of sample holder at certain angles. Raman spectroscop چکیده کامل

  AbstractMn helical star-shaped (pine-tree-like) nano-sculptured thin films with three-, four-and fivefold symmetry on copper substrates were produced using oblique angle deposition method in conjunction with rotation of sample holder at certain angles. Raman spectroscopy of the samples which were subjected to impregnation by 4,4′-bipyridine (C10H8N2) solution was carried out by 632.8 nm wavelength laser. The analysis of the Raman spectra showed enhancement for the 4,4′-bipyridine main bands (1592 and 1297 cm−1) belonging to the C=C stretching mode, aromatic ring stretching ring and in-plane ring mode of 4,4′-bipyridine, same as results obtained for Ag nano-structures. In addition, overtone and combined peaks are detected that may be related to the particular sculptured structure of the thin films fabricated in this work and the laser wavelength used for Raman spectroscopy. UV–Vis (absorption mode) spectra showed consistent observations with the SERS results leading to important role of surface electromagnetic selection rule in intensification of SERS, in addition pointing out the importance of the effect of the size of hot spots on the frequency of the localized surface plasmonic oscillations. پرونده مقاله
• دسترسی آزاد مقاله
  • صفحه چکیده
  • متن کامل
  
  2 - شبیه‌سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی
  محسن کاتبی جهرمی رحیم غیور زهرا عادل پور
  یکی از پیشرفت های مهم سال های اخیر در دستگاه رامان، تلفیق آن با میکروسکوپ پروب روبشی (SPM) به خصوص میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) بوده است. میکروسکوپ نیروی اتمی در حال حاضر به عنوان یکی از بـهترین روش های تصویر برداری برای مطالعه توزیع ناهمگون سطح در ابعاد نانو شناخته می چکیده کامل

  یکی از پیشرفت های مهم سال های اخیر در دستگاه رامان، تلفیق آن با میکروسکوپ پروب روبشی (SPM) به خصوص میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) بوده است. میکروسکوپ نیروی اتمی در حال حاضر به عنوان یکی از بـهترین روش های تصویر برداری برای مطالعه توزیع ناهمگون سطح در ابعاد نانو شناخته می شود. در سال های اخیر دانشمندان بر روی به دست آوردن فاکتور تقویت میدان الکتریکی بیشتر متمرکز شده اند تا آنجا که آشکارسازی و نقشه برداری از یک مولکول تنها با این روش امکان پذیر شده است. در نتیجه رزولوشن فضایی جهـت تشخیص در مقیاس زیر مولکول در حال بهـبود است. در این مقاله با استفاده از روش محاسباتی تفاضلی محدود در حوزه زمان (FDTD) اثر تغییر پارامترهای پروب مثل زاویه مخروط، شعاع تیپ و ‌‌جنس آن بر میزان شدت میدان الکتریکی نزدیک به نوک پروب مورد بررسی قرار گرفته است. در نهایت پس از یافتن بهترین ساختار تیپ و نوع پلاریزاسیون نور تابشی، اثر استفاده از زیر لایه در سیستم طیف سنجی رامان تقویت شده سوزنی (TERS) پیشنهادی بررسی شده است. نتایج شبیه سازی ها نشان می دهد که با توجه به ابعاد تیپ انتخاب شده از بین زاویه های مخروط بررسی شده زاویه مخروط 30 درجه بیشترین میزان تقویت میدان الکتریکی در نوک تیپ را ایجاد می کند. همچنین به کار بردن منبع نور تابشی با پلاریزاسیون دایره ای و استفاده از زیرلایه از عوامل بسیار موثر جهت بهبود فاکتور تقویت میدان الکتریکی هستند. در انتها برای ساختار طراحی شده ماکزیمم مقدار فاکـتور تقویت میدان الـکـتریکی 104×2/3 به دست آمده است، که این مقدار در مقایسه با نتایج گزارش شده در مطالعات قبلی بهبود قابل توجه داشته ‌‌‌‌‌‌ است. پرونده مقاله