تحلیل حساسیت پاسخ فرکانسی میکروسکوپ نیروی اتمی در محیط مایع نسبت به پارامترهای هندسی تیرک

Subject Areas : Journal of Simulation and Analysis of Novel Technologies in Mechanical Engineering

مهرنوش دمیرچلی ¹

1 - استادیار، دانشکده مکانیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد شهر قدس

Received: 2016-04-04 Accepted : 2016-04-04 Published : 2015-11-01

Keywords: تحلیل حساسیت, پارامترهای هندسی تیرک, مدل تیر تیموشنکو, محیط مایع, روش سوبول و مود ضربه‌ای,

Abstract :

در این مقاله دینامیک غیر خطی میکروسکوپ نیروی اتمی مستطیلی با مدل تیر تیموشنکو با در نظر گرفتن اثر پارامترهای هندسی مانند طول، عرض، ضخامت تیرک، ارتفاع نوک تیرک و زاویه قرارگیری تیرک نسبت به نمونه مورد بررسی قرار گرفته است. نتایج مبین آن هستند که فرکانس تشدید، دامنه ارتعاش و فاز پاسخ بسیار حساس به تغییرات پارامترهای هندسی هستند. سپس به منظور بهبود رفتار سیستم و بهینه سازی آن تحلیل حساسیت پارامترهای هندسی سیستم بر روی فرکانس تشدید و دامنه ارتعاش تغییر مکان عمودی مربوط به مود اول به روش سوبول   انجام شده است. از آنجا که وضوح تصاویر گرفته شده از نمونه ها و تقریب خواص رابطه مستقیمی با حساسیت فرکانسی میکروسکوپ نیروی اتمی دارند، نتایج این مقاله می­توانند راهنمای خوبی جهت انتخاب بهترین تیرک به منظور رسیدن به بهترین  وضوح تصویر برای نمونه های نرم بیولوژیکی در محیط مایع باشند. همچنین یکی از روشهای بالا بردن سرعت عکسبرداری در محیط مایع استفاده از تیرکهای کوتاه است و برای مدل سازی تیرکهای کوتاه، مدل تیر تیموشنکو از مدلهای دیگر مانند تیر اویلر برنولی بسیار دقیق­تر به نظر می­رسد زیرا در مدل تیر تیموشنکو اثر تغییر شکل برشی و اینرسی چرخشی در نظر گرفته می­شود و در این مقاله از این مدل برای رسیدن به نتایجی دقیق تر استفاده شده است.

References:

[Giessibl,  #7][1]        Giessibl F.J., Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy, Physical Review B, vol. 56, No. 24, 1997, pp. 16010.

[2]        San Paulo A., García R., Tip-surface forces, amplitude, and energy dissipation in amplitude-modulation (tapping mode) force microscopy, Physical Review B, vol. 64, No. 19, 2001, pp. 193411.

[3]        Rabe U., Janser K., Arnold W., Vibrations of free and surface‐coupled atomic force microscope cantilevers: theory and experiment, Review of Scientific Instruments, vol. 67, No. 9, 1996, pp. 3281-3293.

[4]        Turner J.A., Hirsekorn S., Rabe U., Arnold W., High-frequency response of atomic-force microscope cantilevers, Journal of Applied Physics, vol. 82, No. 3, 1997, pp. 966-979.

[5]        Stark R.W., Schitter G., Stark M., Guckenberger R., Stemmer A., State-space model of freely vibrating and surface-coupled cantilever dynamics in atomic force microscopy, Physical Review B, vol. 69, No. 8, 2004, pp. 085412.

[6]        Butt H.J., Jaschke M., Calculation of thermal noise in atomic force microscopy, Nanotechnology, vol. 6, No. 1, 1995, pp. 1.

[7]        Rabe U., Turner J., Arnold W., Analysis of the high-frequency response of atomic force microscope cantilevers, Applied Physics A: Materials Science & Processing, vol. 66, 1998, pp. S277-S282.

[8]        Lee S., Howell S., Raman A., Reifenberger R., Nonlinear dynamics of microcantilevers in tapping mode atomic force microscopy: A comparison between theory and experiment, Physical Review B, vol. 66, No. 11, 2002, pp. 115409.

[9]        Arinero R., Lévêque G., Vibration of the cantilever in force modulation microscopy analysis by a finite element model, Review of scientific instruments, vol. 74, No. 1, 2003, pp. 104-111.

[10]  Sadeghi A., Zohoor H., Nonlinear vibration of rectangular atomic force microscope cantilevers by considering the Hertzian contact theory, Canadian Journal of Physics, vol. 88, No. 5, 2010, pp. 333-348.

[11] Hansma P., Cleveland J., Radmacher M., Walters D., Hillner P., Bezanilla M., Fritz M., Vie D., Hansma H., Prater C., Tapping mode atomic force microscopy in liquids, Applied Physics Letters, vol. 64, No. 13, 1994, pp. 1738-1740.

[12] Putman C. A., Van der Werf K.O., De-Grooth B.G., N. F. Van Hulst, J. Greve, Tapping mode atomic force microscopy in liquid, Applied Physics Letters, vol. 64, No. 18, 1994, pp. 2454-2456.

[13] Chen G., Warmack R., Huang A., Thundat T., Harmonic response of near‐contact scanning force microscopy, Journal of applied physics, vol. 78, No. 3, 1995, pp. 1465-1469.

[14] Chen G., Warmack R., Oden P., Thundat T., Transient response of tapping scanning force microscopy in liquids, Journal of Vacuum Science & Technology B, vol. 14, No. 2, 1996, pp. 1313-1317.

[15] Burnham N., Behrend O., Oulevey F., Gremaud G., Gallo P., Gourdon D., Dupas E., Kulik A., Pollock H., Briggs G., How does a tip tap?, Nanotechnology, vol. 8, No. 2, 1997, pp. 67.

[16] Sader J.E., Frequency response of cantilever beams immersed in viscous fluids with applications to the atomic force microscope, Journal of applied physics, Vol. 84, No. 1, 1998, pp. 64-76.

[17] Y. Song, B. Bhushan, Finite-element vibration analysis of tapping-mode atomic force microscopy in liquid, Ultramicroscopy, vol. 107, No. 10, 2007, pp. 1095-1104.

[18] Korayem M., Ebrahimi N., Nonlinear dynamics of tapping-mode atomic force microscopy in liquid, Journal of Applied Physics, vol. 109, No. 8, 2011, pp. 084301.

[19] Lee H.L., Chang W.J., Sensitivity of V-shaped atomic force microscope cantilevers based on a modified couple stress theory, Microelectronic Engineering, vol. 88, No. 11, 2011, pp. 3214-3218.

[20] Moosapour M., Hajabasi M.A., Ehteshami H., Frequency and sensitivity analysis of atomic force microscope (afm) cantilever considering coupled flexural-torsional vibrations, Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures, vol. 7, No. 3, 2012, pp. 1103-1115.

[21] Timoshenko S., Goodier, Theory of Elasticity, McGraw3 1aill, New York, vol. 1, No. 95, 1951, pp. 1.

[22] Hosaka H., Itao K., Kuroda S., Damping characteristics of beam-shaped micro-oscillators, Sensors and Actuators A: Physical, vol. 49, No. 1, 1995, pp. 87-95.

[23] Hsu J.C., Lee H.L., Chang W.J., Flexural vibration frequency of atomic force microscope cantilevers using the Timoshenko beam model, Nanotechnology, vol. 18, No. 28, 2007, pp. 285503.

[24] Derjaguin B.V., Muller V.M., Toporov Y.P., Effect of contact deformations on the adhesion of particles, Journal of Colloid and interface science, vol. 53, No. 2, 1975, pp. 314-326.

[25] Saltelli A., Chan K., Scott EM: Sensitivity analysis, Wiley, vol. 79, 2000, pp. 80.

[26] Korayem M., Damircheli M., The effect of fluid properties and geometrical parameters of cantilever on the frequency response of atomic force microscopy, Precision Engineering, vol. 38, No. 2, 2014, pp. 321-329.