بررسی سنتز ذرات نانوساختار سیلیکات روی (Zn2SiO4) با فرآیند سل- ژل

محورهای موضوعی : نانومواد

داوود بارانی ¹ , رسول صراف ماموری ² , مهرداد کوکبی ³

1 - تهران- دانشگاه تربیت مدرس- گروه مهندسی مواد، دانشکده فنی و مهندسی
2 - تهران- دانشگاه تربیت مدرس- گروه مهندسی مواد، دانشکده فنی و مهندسی
3 - تهران- دانشگاه تربیت مدرس- گروه مهندسی مواد، دانشکده فنی و مهندسی

تاریخ دریافت : 1397/06/17 تاریخ پذیرش : 1397/06/17 تاریخ انتشار : 1388/09/01

کلید واژه: فوتوکاتالیست, نیترات روی, ذرات نانوساختار Zn2SiO4, تترا اتیل اکسی سیلان, فرآیند سل-ژل,

چکیده مقاله :

در این تحقیق ذرات نانوساختار سیلیکات روی با فرآیند سل- ژل از پیش ماده های تترا اتیل اکسی سیلان و نیترات روی سنتز شدند. با آنالیز های DTA از ژل و XRD از ژل کلسینه شده تغییرات ساختاری در دماهای مختلف بررسی شدند. نتایج XRD تشکیل ساختارهای آمورف و تشکیل فاز کریستالی Zn2SiO4 را با افزایش دمای کلسیناسیون نشان دادند. با توجه به الگوی XRD از نمونه های کلسینه شده در دماهای 800 و 900 درجه سانتیگراد و روش شرر به ترتیب اندازه دانه‌ها 13 و 27 نانومتر به دست آمد. همچنین آنالیز حرارتی مواد اولیه در دماهای کم پیک های گرماگیر تبخیر حلال و تجزیه فازهای آلی و در دمای بالا پیک گرمازای تشکیل فاز Zn2SiO4را نشان داد. علاوه بر این تصاویر SEM نشان دادند که تفاوت بین اندازه ذرات فاز آمورف و فاز کریستالی ناچیز است و محدوده آن بین 50 تا 400 نانومتر می‌باشد. همچنین آزمون اسپکتروسکوپی UV نیز برای بررسی خواص فوتوکاتالیستی نتایج قابل قبول نشان داد.