تهیه فیلم نازک اکسید روی با روش کندوپاش پلاسمایی و مطالعه تغییرات خواص الکتریکی، ساختاری و مورفولوژی آن با دوزهای مختلف تابش گاما
محورهای موضوعی :
نانومواد
سارا نوبخت
1
,
ربابه طالب‌زاده
2
,
صمد سبحانیان
3
,
حمید نقش‌آرا
4
,
محمد کوهی
5
1 - گروه فیزیک، واحد تبریز، دانشگاه آزاد اسلامی، تبریز، ایران
2 - گروه فیزیک، واحد تبریز، دانشگاه آزاد اسلامی، تبریز، ایران
3 - دانشکده فیزیک، دانشگاه تبریز، تبریز، ایران
4 - دانشکده فیزیک، دانشگاه تبریز، تبریز، ایران
5 - گروه فیزیک، واحد تبریز، دانشگاه آزاد اسلامی، تبریز، ایران
تاریخ دریافت : 1401/08/12
تاریخ پذیرش : 1401/08/12
تاریخ انتشار : 1401/08/01
کلید واژه:
مورفولوژی,
اکسید روی,
پرتو گاما,
خصوصیات الکتریکی و ساختاری,
اسپاترینگ پلاسمایی,
چکیده مقاله :
فیلم‌های نازک نانوساختاری اکسید روی با ضخامت حدود nm ۱۵۰ با روش اسپاترینگ پلاسمایی برای سه دمای مختلف زیرلایه استیلی و درصدهای مختلف ترکیب اکسیژن و گاز کاری آرگون تهیه گردیده و نمونه‌های مختلف تحت تابش پرتوهای گاما Co60 قرار داده شدند. تغییرات در طیف پراش پرتو اشعه X (XRD)، مقاومت ویژه و به تبع آن هدایت الکتریکی و مورفولوژی سطح برای دوزهای مختلف پرتو گاما از Gy ۵۰ تا Gy ۲۰۰۰ بررسی و مورد تحقیق قرار گرفته‌اند. با اینکه وابستگی خصوصیات الکتریکی و مورفولوژی فیلم‌های نازک با میزان دوز تابشی گاما، درصد ترکیب‌های گاز کاری و دماهای زیرلایه بسیار پیچیده است با این حال برای بعضی از دوزهای گاما تغییرات در فاز ساختاری، مقاومت ویژه و اندازه نانودانه‌های نشانده شده روی زیرلایه استیل به وضوح قابل ملاحظه هستند.
منابع و مأخذ:
J. Chen, F.Y. Hung, S.J. Chang, S.J. Young, Journal of Alloys and Compounds, 479, 2009, 674.
R. Khan, M.S. Khan, M. Zulfequar, M.S. Khan, Materials Science and Applications, 2, 2011, 340.
Lee, S.S. Lee, J.J. Choi, J. Jeon, K. Ro, Microsystem Technologies, 11, 2005, 416.
Li, Y. Bando, D. Golberg, Applied Physics Letters, 84, 2004, 3603.
Majumdar, P. Banerji, Journal of Applied Physics, 107, 2010, 063702.
Salaoru, P. Buffat, D. Laub, A. Amariei, N. Apetroaei, M. Rusu, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 8, 2006, 936.
Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, Nature Materials, 4, 2005, 42.
Arshak, O. Korostynska, IEEE Sensors Journal, 3, 2003, 717.
Arshak, O. Korostynska, Sensor Review,15, 2003, 1.
Colby, G. Lum, T. Plettner, J. Spencer, IEEE Transactions on Nuclear Science, 49, 2002, 2857.
Molenberghs, K. Arshak, O. Korostynska, Sensor Review, 25, 2006, 1.
Arshak, O. Korostynska, Materials Science and Engineering: B, 133, 2006, 1.
Ibrahim, L. Soliman, Radiation Physics and Chemistry, 53, 1998, 469.
Arshak, O. Korostynska, Sensors, 2, 2002, 347.
Maity, S. Sharma, Bulletin of Materials Science, 31, 2008, 841.
Maity, S. Sharma, Effects of gamma irradiation on electrical, optical and structural properties of tellurium dioxide thin films, 2011.
Senthil-Srinivasan, M. Patra, V. Choudhary, A. Pandya, Journal of optoelectronics and Advanced Materials, 9, 2007, 3725.
Sharma, T. Maity, Bulletin of Materials Science, 34, 2011, 61.
Babu, K. Mohanraj, S. Chandrasekar, N. Senthil Kumar, B. Mohanbabu, Nanoscale Reports, 1, 2018, 26.
Yang, S. Rossnagel, J. Joo, Vacuum, 86, 2012, 1452.
Sengupta, R. Sahoo, C. Mukherjee, Materials Letters, 83, 2012, 84.
Wang, M. Wu, Y. Wang, Y. Yu, X. Wu, L. Zhuge, Vacuum, 89, 2013, 127.
Aldawood, M. AlGarawi, M.A. Shar, S.M. Ali, Journal of King Saud University-Science, 32, 2020, 2629.
A. Kakil, B.N. Sabr, L.S. Hana, T.A.H. Abbas, S.Y. Hussin, Journal of the Korean Physical Society, 72, 2018, 561.
H. Lee, K. Oh, K. Jung, K. Wilson, M.J. Lee, Metals, 10, 2020, 437.
Alyamani, N. Mustapha, T. Alkhuraiji, H. Idriss, Journal of Ovonic Research, 15, 2019, 301.
Qindeel, Results in Physics, 7, 2017, 807.
P. Dabruck. Prototype Moderator at the AKR-2 Training Reactor, Target Station Optimization for the High- Brilliance Neutron Source HBS, Springer; 2018, 127-45.
Erramli, J. El Asri, Gamma Rays: Applications in Environmental Gamma Dosimetry and Determination Samples Gamma-Activities Induced by Neutrons, Use of Gamma Radiation Techniques in Peaceful Applications, 2019;109.
Anandh, A.S. Ganesh, R. Thangarasu, R. Sakthivel, R. Kannusamy, K. Tamilselvan, Oriental Journal of Chemistry, 34, 2018, 1619.
N.H. Mia, M.F. Pervez, M.K. Hossain, M.R. Rahman, M.J. Uddin, Results in Physics, 7, 2017, 2683.S. Nobakht, R. Talebzadeh, S. Sobhanian, H. Naghshara, M. Kouhi, Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 15, 2021, 1.
_||_
J. Chen, F.Y. Hung, S.J. Chang, S.J. Young, Journal of Alloys and Compounds, 479, 2009, 674.
R. Khan, M.S. Khan, M. Zulfequar, M.S. Khan, Materials Science and Applications, 2, 2011, 340.
Lee, S.S. Lee, J.J. Choi, J. Jeon, K. Ro, Microsystem Technologies, 11, 2005, 416.
Li, Y. Bando, D. Golberg, Applied Physics Letters, 84, 2004, 3603.
Majumdar, P. Banerji, Journal of Applied Physics, 107, 2010, 063702.
Salaoru, P. Buffat, D. Laub, A. Amariei, N. Apetroaei, M. Rusu, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 8, 2006, 936.
Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, Nature Materials, 4, 2005, 42.
Arshak, O. Korostynska, IEEE Sensors Journal, 3, 2003, 717.
Arshak, O. Korostynska, Sensor Review,15, 2003, 1.
Colby, G. Lum, T. Plettner, J. Spencer, IEEE Transactions on Nuclear Science, 49, 2002, 2857.
Molenberghs, K. Arshak, O. Korostynska, Sensor Review, 25, 2006, 1.
Arshak, O. Korostynska, Materials Science and Engineering: B, 133, 2006, 1.
Ibrahim, L. Soliman, Radiation Physics and Chemistry, 53, 1998, 469.
Arshak, O. Korostynska, Sensors, 2, 2002, 347.
Maity, S. Sharma, Bulletin of Materials Science, 31, 2008, 841.
Maity, S. Sharma, Effects of gamma irradiation on electrical, optical and structural properties of tellurium dioxide thin films, 2011.
Senthil-Srinivasan, M. Patra, V. Choudhary, A. Pandya, Journal of optoelectronics and Advanced Materials, 9, 2007, 3725.
Sharma, T. Maity, Bulletin of Materials Science, 34, 2011, 61.
Babu, K. Mohanraj, S. Chandrasekar, N. Senthil Kumar, B. Mohanbabu, Nanoscale Reports, 1, 2018, 26.
Yang, S. Rossnagel, J. Joo, Vacuum, 86, 2012, 1452.
Sengupta, R. Sahoo, C. Mukherjee, Materials Letters, 83, 2012, 84.
Wang, M. Wu, Y. Wang, Y. Yu, X. Wu, L. Zhuge, Vacuum, 89, 2013, 127.
Aldawood, M. AlGarawi, M.A. Shar, S.M. Ali, Journal of King Saud University-Science, 32, 2020, 2629.
A. Kakil, B.N. Sabr, L.S. Hana, T.A.H. Abbas, S.Y. Hussin, Journal of the Korean Physical Society, 72, 2018, 561.
H. Lee, K. Oh, K. Jung, K. Wilson, M.J. Lee, Metals, 10, 2020, 437.
Alyamani, N. Mustapha, T. Alkhuraiji, H. Idriss, Journal of Ovonic Research, 15, 2019, 301.
Qindeel, Results in Physics, 7, 2017, 807.
P. Dabruck. Prototype Moderator at the AKR-2 Training Reactor, Target Station Optimization for the High- Brilliance Neutron Source HBS, Springer; 2018, 127-45.
Erramli, J. El Asri, Gamma Rays: Applications in Environmental Gamma Dosimetry and Determination Samples Gamma-Activities Induced by Neutrons, Use of Gamma Radiation Techniques in Peaceful Applications, 2019;109.
Anandh, A.S. Ganesh, R. Thangarasu, R. Sakthivel, R. Kannusamy, K. Tamilselvan, Oriental Journal of Chemistry, 34, 2018, 1619.
N.H. Mia, M.F. Pervez, M.K. Hossain, M.R. Rahman, M.J. Uddin, Results in Physics, 7, 2017, 2683.S. Nobakht, R. Talebzadeh, S. Sobhanian, H. Naghshara, M. Kouhi, Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 15, 2021, 1.
